重新設(shè)計(jì)的探測器：

 德國斯派克最新一代偏振能量色散X射線熒光光譜儀SPECTRO-XEPOS采用了新型硅漂移探測器（SDD）。該款探測器在舊型號中具有高分辨率、受光譜干擾小的優(yōu)點(diǎn)。最新版本的表面面積進(jìn)一步擴(kuò)大（30mm2）最大程度增加了有效面積。此外，該新款告訴檢測/讀出系統(tǒng)還具有超高的計(jì)數(shù)率-高達(dá)每秒100萬次（CPS）-同事其分辨率也比以往更高。

 它還有助于大幅度提高系統(tǒng)的峰值/背景比，實(shí)現(xiàn)極低的檢測限、超高的靈敏度。

   簡單專業(yè)的軟件：

 偏振能量色散X射線熒光光譜儀SPECTRO-XEPOS所使用的SPECTRO XRF Analyzer Pro專業(yè)版操作軟件界面經(jīng)過重新設(shè)計(jì)和優(yōu)化-通過第三方測試和認(rèn)證，具有優(yōu)異的用戶體驗(yàn)，易于掌握和使用。軟件模塊相互獨(dú)立，優(yōu)化了對關(guān)鍵信息的訪問進(jìn)程。一旦回歸完成，常規(guī)分析就是舉手之勞。軟件預(yù)置了一些列可選預(yù)制應(yīng)用程序包，滿足用戶的各種需求，實(shí)驗(yàn)室管理人員還可以針對具有應(yīng)用自制曲線。標(biāo)準(zhǔn)分析范圍涵蓋了納至鈾的一系列元素。適合分析潤滑油、低硫燃料、其他石化產(chǎn)品、化學(xué)品、大氣飄塵、熟料/水泥/礦渣、地質(zhì)樣品、化妝品、食品、藥品、鋼鐵和鋁材版涂層、環(huán)境樣品、土壤和污染等

隨著分辨率的提高，更小的峰值也能從背景中顯示出來，在各種基體上實(shí)現(xiàn)優(yōu)秀的檢測限

產(chǎn)品詳情頁：http://m.ok-century.com.cn/products_view-676.html